ซื้อ SN74ABT8646DW กับ BYCHPS
ซื้อพร้อมรับประกัน
SN74ABT8646DW
- รุ่นผลิตภัณฑ์:
- SN74ABT8646DW
- ผู้ผลิต:
- ลักษณะ:
- IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC
- สถานะสารตะกั่ว / สถานะ RoHS:
- ปราศจากสารตะกั่ว / เป็นไปตาม RoHS
- ปริมาณที่มีจำหน่าย:
- 12164 Pieces
- แผ่นข้อมูล:
- SN74ABT8646DW.pdf
บทนำ
BYCHIPS เป็นผู้จัดจำหน่ายถุงเท้าสำหรับ SN74ABT8646DW เรามีหุ้นสำหรับการจัดส่งได้ทันทีและยังสามารถใช้ได้สำหรับการจัดหาเวลานาน กรุณาส่งแผนการซื้อมาให้เรา SN74ABT8646DW ทางอีเมลเราจะให้ราคาที่ดีที่สุดตามแผนของคุณ
ขนาด
| การจ่ายแรงดัน: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| ผู้ผลิตอุปกรณ์แพคเกจ: | 28-SOIC |
| ชุด: | 74ABT |
| บรรจุภัณฑ์: | Tube |
| หีบห่อ / บรรจุภัณฑ์: | 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| ชื่ออื่น: | 296-4113-5 SN74ABT8646DWE4 SN74ABT8646DWE4-ND SN74ABT8646DWG4 SN74ABT8646DWG4-ND |
| อุณหภูมิในการทำงาน: | -40°C ~ 85°C |
| จำนวนบิต: | 8 |
| ประเภทการติดตั้ง: | Surface Mount |
| ระดับความไวของความชื้น (MSL): | 1 (Unlimited) |
| ระยะเวลารอคอยของผู้ผลิตมาตรฐาน: | 6 Weeks |
| หมายเลขชิ้นส่วนของผู้ผลิต: | SN74ABT8646DW |
| ประเภทตรรกะ: | Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers |
| ขยายคำอธิบาย: | Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SOIC |
| ลักษณะ: | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC |
| Email: | [email protected] |
ชิ้นส่วนที่เกี่ยวข้องกับการ SN74ABT8646DW
| ภาพ | รุ่นผลิตภัณฑ์ | ผู้ผลิต | ลักษณะ | ดู |
|---|---|---|---|---|
|
SN74ABT8646DWRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC | การสอบสวน |
|
SN74ABT8646DLG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | การสอบสวน |
|
SN74ABT8646DWRE4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | การสอบสวน |
|
SN74ABT8646DL | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP | การสอบสวน |
|
SN74ABT863NT | Texas Instruments | IC BUS TRANSCVR 9BIT 24DIP | การสอบสวน |
|
SN74ABT8646DLR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | การสอบสวน |
|
SN74ABT8646DWR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | การสอบสวน |
|
SN74ABT863DW | Texas Instruments | IC BUS TRANSCVR 9BIT 24SOIC | การสอบสวน |
|
SN74ABT8652DLRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | การสอบสวน |
|
SN74ABT861DW | Texas Instruments | IC TRANSCVR TRI-ST 10BIT 24SOIC | การสอบสวน |
|
SN74ABT861NSRG4 | Texas Instruments | IC TRANSCVR TRI-ST 10BIT 24SO | การสอบสวน |
ข่าว Latest
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI to reduce costs in Wireless business; OMAP™ processors and wireless connectivity solutions will focus on embedded markets
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers