ภาษาไทย
English Deutsch Français русский español Português Italia 한국의 العربية Türk dili polski Suomi Indonesia Tiếng Việt ภาษาไทย Nederland Pilipino Čeština 繁体中文 Magyarország Kongeriket Dansk Svenska✕
เกี่ยวกับเรา | ติดต่อเรา | ขอใบเสนอราคา |
บ้าน > ศูนย์ผลิตภัณฑ์ > ลอจิก IC > วงจรลอจิกแบบพิเศษ > SN74LVTH182504APM
SN74LVTH182504APM
รุ่นผลิตภัณฑ์:
SN74LVTH182504APM
ผู้ผลิต:
ลักษณะ:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
สถานะสารตะกั่ว / สถานะ RoHS:
ปราศจากสารตะกั่ว / เป็นไปตาม RoHS
ปริมาณที่มีจำหน่าย:
12959 Pieces
แผ่นข้อมูล:
SN74LVTH182504APM.pdf
การสอบสวน

บทนำ

BYCHIPS เป็นผู้จัดจำหน่ายถุงเท้าสำหรับ SN74LVTH182504APM เรามีหุ้นสำหรับการจัดส่งได้ทันทีและยังสามารถใช้ได้สำหรับการจัดหาเวลานาน กรุณาส่งแผนการซื้อมาให้เรา SN74LVTH182504APM ทางอีเมลเราจะให้ราคาที่ดีที่สุดตามแผนของคุณ
ซื้อ SN74LVTH182504APM กับ BYCHPS
ซื้อพร้อมรับประกัน

ขนาด

การจ่ายแรงดัน:2.7 V ~ 3.6 V
ผู้ผลิตอุปกรณ์แพคเกจ:64-LQFP (10x10)
ชุด:74LVTH
บรรจุภัณฑ์:Tray
หีบห่อ / บรรจุภัณฑ์:64-LQFP
ชื่ออื่น:296-8697
อุณหภูมิในการทำงาน:-40°C ~ 85°C
จำนวนบิต:20
ประเภทการติดตั้ง:Surface Mount
ระดับความไวของความชื้น (MSL):3 (168 Hours)
ระยะเวลารอคอยของผู้ผลิตมาตรฐาน:6 Weeks
หมายเลขชิ้นส่วนของผู้ผลิต:SN74LVTH182504APM
ประเภทตรรกะ:ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
ขยายคำอธิบาย:ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10)
ลักษณะ:IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Email:[email protected]

ด่วนขอใบเสนอราคา

รุ่นผลิตภัณฑ์
จำนวน
บริษัท
E-mail
เบอร์โทร
หมายเหตุ

ชิ้นส่วนที่เกี่ยวข้องกับการ SN74LVTH182504APM

ภาพ รุ่นผลิตภัณฑ์ ผู้ผลิต ลักษณะ ดู
SN74LVTH18502APMR Texas Instruments IC 18BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP การสอบสวน
SN74LVTH182512DGGR Texas Instruments IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP การสอบสวน
SN74LVTH182502APM Texas Instruments IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP การสอบสวน
SN74LVTH182502APMR Texas Instruments IC SCAN-TEST-DEV/TRANSCVR 64LQFP การสอบสวน
SN74LVTH182652APM Texas Instruments IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP การสอบสวน
SN74LVTH18512DGGR Texas Instruments IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP การสอบสวน
SN74LVTH18504APMR Texas Instruments IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP การสอบสวน
SN74LVTH182646APM Texas Instruments IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP การสอบสวน
SN74LVTH18646APM Texas Instruments IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP การสอบสวน
SN74LVTH18504APMG4 Texas Instruments IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP การสอบสวน
SN74LVTH18652APM Texas Instruments IC TXRX/REG 18BIT 3.3V 64-LQFP การสอบสวน
SN74LVTH18514DGGR Texas Instruments IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP การสอบสวน

ข่าว Latest