ซื้อ SN74LVTH182504APM กับ BYCHPS
ซื้อพร้อมรับประกัน
SN74LVTH182504APM
- รุ่นผลิตภัณฑ์:
- SN74LVTH182504APM
- ผู้ผลิต:
- ลักษณะ:
- IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
- สถานะสารตะกั่ว / สถานะ RoHS:
- ปราศจากสารตะกั่ว / เป็นไปตาม RoHS
- ปริมาณที่มีจำหน่าย:
- 12959 Pieces
- แผ่นข้อมูล:
- SN74LVTH182504APM.pdf
บทนำ
BYCHIPS เป็นผู้จัดจำหน่ายถุงเท้าสำหรับ SN74LVTH182504APM เรามีหุ้นสำหรับการจัดส่งได้ทันทีและยังสามารถใช้ได้สำหรับการจัดหาเวลานาน กรุณาส่งแผนการซื้อมาให้เรา SN74LVTH182504APM ทางอีเมลเราจะให้ราคาที่ดีที่สุดตามแผนของคุณ
ขนาด
| การจ่ายแรงดัน: | 2.7 V ~ 3.6 V |
|---|---|
| ผู้ผลิตอุปกรณ์แพคเกจ: | 64-LQFP (10x10) |
| ชุด: | 74LVTH |
| บรรจุภัณฑ์: | Tray |
| หีบห่อ / บรรจุภัณฑ์: | 64-LQFP |
| ชื่ออื่น: | 296-8697 |
| อุณหภูมิในการทำงาน: | -40°C ~ 85°C |
| จำนวนบิต: | 20 |
| ประเภทการติดตั้ง: | Surface Mount |
| ระดับความไวของความชื้น (MSL): | 3 (168 Hours) |
| ระยะเวลารอคอยของผู้ผลิตมาตรฐาน: | 6 Weeks |
| หมายเลขชิ้นส่วนของผู้ผลิต: | SN74LVTH182504APM |
| ประเภทตรรกะ: | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
| ขยายคำอธิบาย: | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10) |
| ลักษณะ: | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP |
| Email: | [email protected] |
ชิ้นส่วนที่เกี่ยวข้องกับการ SN74LVTH182504APM
| ภาพ | รุ่นผลิตภัณฑ์ | ผู้ผลิต | ลักษณะ | ดู |
|---|---|---|---|---|
|
SN74LVTH18502APMR | Texas Instruments | IC 18BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | การสอบสวน |
|
SN74LVTH182512DGGR | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP | การสอบสวน |
|
SN74LVTH182502APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | การสอบสวน |
|
SN74LVTH182502APMR | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TRANSCVR 64LQFP | การสอบสวน |
|
SN74LVTH182652APM | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP | การสอบสวน |
|
SN74LVTH18512DGGR | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP | การสอบสวน |
|
SN74LVTH18504APMR | Texas Instruments | IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | การสอบสวน |
|
SN74LVTH182646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | การสอบสวน |
|
SN74LVTH18646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | การสอบสวน |
|
SN74LVTH18504APMG4 | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | การสอบสวน |
|
SN74LVTH18652APM | Texas Instruments | IC TXRX/REG 18BIT 3.3V 64-LQFP | การสอบสวน |
|
SN74LVTH18514DGGR | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP | การสอบสวน |
ข่าว Latest
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI to reduce costs in Wireless business; OMAP™ processors and wireless connectivity solutions will focus on embedded markets
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers