ซื้อ SN74BCT8240ADW กับ BYCHPS
ซื้อพร้อมรับประกัน
SN74BCT8240ADW
- รุ่นผลิตภัณฑ์:
- SN74BCT8240ADW
- ผู้ผลิต:
- ลักษณะ:
- IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
- สถานะสารตะกั่ว / สถานะ RoHS:
- ปราศจากสารตะกั่ว / เป็นไปตาม RoHS
- ปริมาณที่มีจำหน่าย:
- 17164 Pieces
- แผ่นข้อมูล:
- SN74BCT8240ADW.pdf
บทนำ
BYCHIPS เป็นผู้จัดจำหน่ายถุงเท้าสำหรับ SN74BCT8240ADW เรามีหุ้นสำหรับการจัดส่งได้ทันทีและยังสามารถใช้ได้สำหรับการจัดหาเวลานาน กรุณาส่งแผนการซื้อมาให้เรา SN74BCT8240ADW ทางอีเมลเราจะให้ราคาที่ดีที่สุดตามแผนของคุณ
ขนาด
| การจ่ายแรงดัน: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| ผู้ผลิตอุปกรณ์แพคเกจ: | 24-SOIC |
| ชุด: | 74BCT |
| บรรจุภัณฑ์: | Tube |
| หีบห่อ / บรรจุภัณฑ์: | 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| ชื่ออื่น: | 296-33846-5 SN74BCT8240ADW-ND SN74BCT8240ADWE4 SN74BCT8240ADWE4-ND SN74BCT8240ADWG4 SN74BCT8240ADWG4-ND |
| อุณหภูมิในการทำงาน: | 0°C ~ 70°C |
| จำนวนบิต: | 8 |
| ประเภทการติดตั้ง: | Surface Mount |
| ระดับความไวของความชื้น (MSL): | 1 (Unlimited) |
| ระยะเวลารอคอยของผู้ผลิตมาตรฐาน: | 6 Weeks |
| หมายเลขชิ้นส่วนของผู้ผลิต: | SN74BCT8240ADW |
| ประเภทตรรกะ: | Scan Test Device with Inverting Buffers |
| ขยายคำอธิบาย: | Scan Test Device with Inverting Buffers IC 24-SOIC |
| ลักษณะ: | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
| Email: | [email protected] |
ชิ้นส่วนที่เกี่ยวข้องกับการ SN74BCT8240ADW
| ภาพ | รุ่นผลิตภัณฑ์ | ผู้ผลิต | ลักษณะ | ดู |
|---|---|---|---|---|
|
SN74BCT8244ADWR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | การสอบสวน |
|
SN74BCT8244ADW | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | การสอบสวน |
|
SN74BCT8240ADWRE4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | การสอบสวน |
|
SN74BCT8240ANT | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | การสอบสวน |
|
SN74BCT8245ADWR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC | การสอบสวน |
|
SN74BCT8244ANTG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | การสอบสวน |
|
SN74BCT8245ANT | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP | การสอบสวน |
|
SN74BCT8240ANTG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | การสอบสวน |
|
SN74BCT8240ADWR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | การสอบสวน |
|
SN74BCT8245ADW | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC | การสอบสวน |
|
SN74BCT8240ADWRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC | การสอบสวน |
|
SN74BCT8244ADWE4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC | การสอบสวน |
|
SN74BCT8244ANT | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP | การสอบสวน |
|
SN74BCT8245ANTG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP | การสอบสวน |
ข่าว Latest
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog